超聲相控陣檢測數(shù)據(jù)需兼顧 “信號完整性” 與 “后續(xù)分析兼容性”，常見存儲格式分為三類，各有適用場景：

　　*類是設(shè)備廠商格式，由各研發(fā)，需配套軟件解析，特點(diǎn)是能完整保留原始檢測信息。例如奧林巴斯的 “.raw” 格式，可存儲每道掃描的原始 A 掃信號、B 掃 / C 掃成像數(shù)據(jù)及探頭參數(shù)（陣元數(shù)量、頻率）、檢測參數(shù)（增益、聚焦深度）；GE 的 “.utd” 格式則額外記錄工件坐標(biāo)系與缺陷定位數(shù)據(jù)。這類格式的優(yōu)勢是數(shù)據(jù)無損失，適合設(shè)備原廠軟件進(jìn)行深度分析（如缺陷定量、動態(tài)波束回放），但兼容性差，無法直接用第三方軟件打開，需通過廠商提供的 “格式轉(zhuǎn)換工具” 導(dǎo)出。

　　第二類是行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn)格式，遵循國際或國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，支持多平臺兼容，核心代表為 “PCD（Phased Array Data）格式” 與 “ASME V 標(biāo)準(zhǔn)格式”。PCD 格式由國際無損檢測委員會（ICNDT）制定，可統(tǒng)一存儲相控陣的 A 掃、B 掃、C 掃、D 掃數(shù)據(jù)，包含檢測對象信息、設(shè)備參數(shù)與信號特征，主流第三方分析軟件（如 CIVA、UTInspect）均支持讀取，適合跨廠商數(shù)據(jù)共享與行業(yè)級檢測報(bào)告生成。ASME V 格式則針對承壓設(shè)備檢測，在 PCD 基礎(chǔ)上增加了缺陷評定標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)（如缺陷長度、深度計(jì)算依據(jù)），滿足石油、化工等行業(yè)的合規(guī)性要求。

　　第三類是通用圖像與數(shù)據(jù)格式，適合快速預(yù)覽與基礎(chǔ)分析，常見的有 “.bmp/.png”（圖像格式）與 “*.csv”（數(shù)據(jù)表格格式）。前者可存儲 B 掃 / C 掃成像圖，便于直觀查看缺陷位置與形狀，但丟失原始 A 掃信號，無法進(jìn)行二次定量分析；后者可導(dǎo)出缺陷坐標(biāo)、信號幅值等關(guān)鍵數(shù)據(jù)，適合 Excel 等工具進(jìn)行簡單統(tǒng)計(jì)，但缺乏成像信息。這類格式通常作為 “輔助輸出”，配合或通用標(biāo)準(zhǔn)格式使用，滿足不同場景下的數(shù)據(jù)查看需求。

　　實(shí)際檢測中，需根據(jù) “數(shù)據(jù)用途” 選擇存儲格式：現(xiàn)場快速排查可存儲圖像格式；設(shè)備內(nèi)分析用格式；跨單位協(xié)作或合規(guī)性報(bào)告則需使用 PCD 或 ASME V 等標(biāo)準(zhǔn)格式，確保數(shù)據(jù)的完整性與兼容性。

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