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掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機(jī)
掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機(jī)以電腦控制為主,采用臥式微型小設(shè)計原理,主要用于測試多種材料的物理場合條件下材料的單軸原位力學(xué)性能測試方案,加載時兩端夾具向相反對稱運動,保持樣品始終位于視場的中央,非常適合原位在線觀察。本機(jī)可配大小不同量程的傳感器,可測試軟材料、薄膜材料、生物材料、水凝膠、高分子材料等多種材料的拉伸、壓縮、彎曲、剝離、剪切、蠕變、松弛等測試,可以滿足力的控制位移控制變形控制程控控制等多種控制方式。是科研所、冶金建筑、大專校、機(jī)械制造、交通運輸?shù)刃袠I(yè)理想的高的試驗系統(tǒng)。
掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機(jī)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): 1. 符合GB/T2611-2007《試驗機(jī)通用技術(shù)要求》;
2. 適用于GB、JIS、ASTM、DIN等標(biāo)準(zhǔn)要求。
掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機(jī)技術(shù)參數(shù):
型號:HY-YW-00520(可定制)
額定負(fù)荷:5N 10N 20N 50N 100N 200N 300N 500N
測試精度:0.5級
測力范圍:0.005N-5N 0.01N-10N 0.02N-20N 0.5N-50N 0.1N-100N 0.2N-200N 0.3N-300N 0.5N-500N
載荷分辨率: 1/500000
試驗行程:0-150mm
位移分辨率:0.1μm
加載頻率:0~1Hz
試驗速度:5um/s-lmm/s
凈重:30Kg
外形尺寸:27cm*12cm*45cm
選配環(huán)境附件:水浴環(huán)境、高溫環(huán)境、低溫環(huán)境、腐蝕環(huán)境等
可配合:光學(xué)顯微鏡、DIC系統(tǒng)使用。
夾具:拉伸夾具、壓縮夾具、剝離夾具、剪切夾具等。