臺式硅酸根分析儀/數(shù)顯硅酸根分析儀 型號XN84GXF-215C 庫號D183834

庫號：D183834 

參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
  
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
  
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
  
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
  
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89

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